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單晶XRD測試

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設(shè)備:X射線衍射儀D8-Discover

廠商:布魯克

用途:單晶半高寬,峰位,晶向定位分析。

技術(shù)特點:

l  最大適用4英寸單晶測試

l  新一代的Ius 3.0微焦斑光源,性能媲美微焦斑轉(zhuǎn)靶,零維護,壽命超長。

l  液態(tài)金屬靶MetalJET,室neiX射線光源,強度遠遠高于微焦斑轉(zhuǎn)靶。

l  采用四代光源XFEL探測器技術(shù)的PHOTON II CPAD探測器,超大面積,超快速度,零噪音,單光子檢測的靈敏度。

l  雙靶配置,軟件自動切換光源。滿足不同類型的研究需要。元件自動識別,智能化光路管理。


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